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IC封裝基板

IC封裝基板

IC封裝基板/ PCB系統(tǒng)的熱分析:挑戰(zhàn)及對(duì)策
2020-12-21
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如今越來(lái)越多的IC封裝基板/ PCB系統(tǒng)設(shè)計(jì)需要進(jìn)行熱分析。 功耗是封裝/ PCB系統(tǒng)設(shè)計(jì)中的關(guān)鍵問(wèn)題,需要仔細(xì)考慮熱和電兩個(gè)領(lǐng)域的問(wèn)題。 為了更好地理解熱分析,我們以固體中的熱傳導(dǎo)為例,并利用兩個(gè)領(lǐng)域的對(duì)偶性。 圖1和表1描述了電域與熱域之間的基本關(guān)系。

 圖1. 電域與熱域之間的基本關(guān)系

圖1. 電域與熱域之間的基本關(guān)系(點(diǎn)擊查看大圖)

 電域與熱域之間的基本關(guān)系

表1. 電域與熱域之間的基本關(guān)系(點(diǎn)擊查看大圖)

電域與熱域之間存在一些差異,比如:

在電域,電流被限制在特定電路元件內(nèi)流動(dòng),但在熱域中,熱流通過(guò)三種熱傳導(dǎo)機(jī)制(傳導(dǎo)、對(duì)流和輻射)在三維空間從熱源散發(fā)出去

元件之間的熱耦合比電耦合更加明顯且難以分離

測(cè)量工具不同。 對(duì)于熱分析,紅外熱像儀和熱電偶取代了示波器和電壓探頭

當(dāng)固體或靜止流體介質(zhì)中存在溫度梯度時(shí)發(fā)生熱傳導(dǎo)。 熱對(duì)流和熱輻射是比熱傳導(dǎo)更復(fù)雜的熱傳輸機(jī)制。 熱對(duì)流發(fā)生在固體表面與不同溫度流體材料接觸時(shí)。 熱輻射來(lái)自于所有溫度大于絕對(duì)零度的物質(zhì)的電磁輻射。 圖2顯示了三種熱傳輸工作圖。 所有上述熱傳輸機(jī)制的一維應(yīng)用的描述性等式如表2所示。

 三種熱傳輸機(jī)制

圖2. 三種熱傳輸機(jī)制(點(diǎn)擊查看大圖)

 不同熱傳輸模式的方程

表2. 不同熱傳輸模式的方程(點(diǎn)擊查看大圖)

其中:

Q為每秒傳輸?shù)臒崃?J/s)

k為導(dǎo)熱系數(shù)(W/(K.m))

A為物體的截面積(m2)

ΔT為溫差

Δx為材料厚度

hc 為對(duì)流傳熱系數(shù)

hr 為輻射傳熱系數(shù)

T1 為一側(cè)的初始溫度

T2 為另一側(cè)的溫度

Ts 為固體表面的溫度(oC)

Tf 為流體的平均溫度(oC)

Th 為熱端溫度(K)

Tc 為冷端溫度 (K)

ε為物體的輻射系數(shù)(對(duì)于黑體)(0~1)

σ為Stefan-Boltzmann常數(shù)=5.6703*10-8 (W/(m2K4))

SigrityTM?PowerDCTM 是一種經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的電熱技術(shù),多年來(lái)一直應(yīng)用于設(shè)計(jì)、分析及驗(yàn)收封裝和PCB。 集成的電/熱協(xié)同仿真功能可幫助用戶輕松確認(rèn)設(shè)計(jì)是否符合指定的電壓和溫度閾值,而無(wú)需花費(fèi)大量精力從很多難以判斷的影響因子中進(jìn)行篩選。 借助這項(xiàng)技術(shù),您可以獲得準(zhǔn)確的設(shè)計(jì)余量并降低設(shè)計(jì)的制造成本。 下圖展示了PowerDC用于電/熱協(xié)同仿真的方法:

 PowerDC電/熱協(xié)同仿真方案

圖3. PowerDC電/熱協(xié)同仿真方案(點(diǎn)擊查看大圖)

除了電/熱協(xié)同仿真,PowerDC還提供了其他與熱相關(guān)的功能,比如:

熱模型提取(圖4)

熱應(yīng)力分析(圖5)

多板分析(圖6)

芯片封裝電路板協(xié)同仿真(圖7)

借助這些技術(shù)和功能,您可以方便快捷地通過(guò)圖示、量化來(lái)評(píng)估封裝或印刷電路板設(shè)計(jì)的熱流及熱輻射。

 封裝熱模型提取

圖4. 封裝熱模型提?。c(diǎn)擊查看大圖)

 封裝熱應(yīng)力分析示例

圖5. 封裝熱應(yīng)力分析示例(點(diǎn)擊查看大圖)

 多板熱分析

圖6. 多板熱分析(點(diǎn)擊查看大圖)

 使用Voltus-PowerDC進(jìn)行芯片-封裝的熱協(xié)同仿真

圖7. 使用Voltus-PowerDC進(jìn)行芯片-封裝的熱協(xié)同仿真(點(diǎn)擊查看大圖)