IC測(cè)試是保證產(chǎn)品良率和出產(chǎn)制導(dǎo)致本扼制的關(guān)緊環(huán)節(jié)，在芯片出產(chǎn)過程中施展著意要效用，測(cè)試的主重要的條目的是保障芯片在卑劣背景下絕對(duì)成功實(shí)現(xiàn)預(yù)設(shè)規(guī)格書規(guī)定的功能和性能指標(biāo)，每個(gè)測(cè)試都萌生一系列的測(cè)試數(shù)值，測(cè)試手續(xù)一般由一系列的測(cè)試項(xiàng)目組成。

從多種方面充分檢驗(yàn)測(cè)定芯片，不止能判斷芯片性能是否合格，能否進(jìn)入了市場，從測(cè)試最后結(jié)果的周密數(shù)值中充分反映各個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，從多種方面充分檢驗(yàn)測(cè)定芯片的功能，因此增長芯片的出產(chǎn)速率。

IC測(cè)試治具是基于PCB測(cè)試基板而預(yù)設(shè)的、用于測(cè)試PCB基板上頭的各種封裝的IC芯片、電子元部件、CPU、板塊中心板等IC集成電路的電性能檢查驗(yàn)看測(cè)試專用測(cè)試夾具。

集成電路IC的品質(zhì)僅只是人的眼睛看不見的。它務(wù)必經(jīng)過通電測(cè)試。集成電路的電流、電壓、電感、電阻和容電器不可以絕對(duì)判斷各電子元部件是好是壞。而運(yùn)用IC測(cè)試治具就可以經(jīng)過直接在集成電路測(cè)試基板上跑步手續(xù)摹擬集成電路測(cè)試的各種功能來判斷集成電路的好是壞。

愛彼電路定制各類IC測(cè)試治具、老化測(cè)試座、測(cè)試夾具、QFN測(cè)試座，怎么樣測(cè)試一顆IC的性能最簡單最便捷的辦法就是仿用該IC的電路板來做成測(cè)試治具，可以高效的測(cè)試IC的性能。愛彼電路：專注出產(chǎn)各類BGA老化測(cè)試、FPC/Connector測(cè)試治具、變態(tài)B連署器測(cè)試座，出產(chǎn)各類IC的Burn-inSocket、TestSocket、專業(yè)開發(fā)、制造各類BGA/QFN/SOP/LGA/DDR/晶振測(cè)試座。

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