ATE 測(cè)試板核心技術(shù)解析與半導(dǎo)體檢測(cè)應(yīng)用指南
2025-07-07
在半導(dǎo)體芯片的批量生產(chǎn)中,ATE 測(cè)試板是連接自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)與被測(cè)器件(DUT)的關(guān)鍵載體,其性能直接決定了芯片良率判定的準(zhǔn)確性。本文結(jié)合行業(yè)前沿技術(shù)與公開技術(shù)白皮書,深度解析 ATE 測(cè)試板的材料選型、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及可靠性優(yōu)化方案,揭...
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